毫米级锁定焊缝腐蚀风险——EC-PEN让HAZ无处隐藏

焊缝哪里最容易腐蚀？——EC-PEN，让局部腐蚀风险看得见

焊缝、母材、热影响区（HAZ），看起来只差几毫米，腐蚀行为却可能完全不同

      2024 年发表于 npj Materials Degradation 的研究中，科研人员使用 IPS EC-PEN 电化学腐蚀测试笔，对水下焊接接头的母材、HAZ 与焊缝金属进行局部极化测试。论文中，S355JR 的母材腐蚀电位约为 −510 mV，而 HAZ 降至约 −565 mV；S460NL 也表现出类似趋势。

1 mm²级局部测试，锁定真正的薄弱区

       EC-PEN 将参比电极、对电极与电解液集成于笔式传感单元，可直接接触目标位置进行局部电化学测量。IPS 官方常规产品资料给出的笔尖测量面积约为 1.5 mm²，特别适合焊缝、HAZ、局部涂层及复杂构件的定点测试。

前期发现风险，后期腐蚀结果得到印证

      论文进一步进行了海洋环境和盐雾腐蚀试验。研究发现，采用奥氏体焊材时，局部腐蚀主要发生于热影响区；波罗的海暴露约 1.5 年后，局部腐蚀深度约 250 μm，盐雾试验中约 390 μm。

EC-PEN 的价值，不只是“测腐蚀”，它更重要的是告诉你：腐蚀发生在哪里。

焊缝 ✔

热影响区 HAZ ✔

母材 ✔

表面处理区域 ✔

局部涂层 ✔

大型及复杂构件 ✔

IPS EC-PEN把电化学测试，做到真正需要关注的位置。

IPS 爱谱斯成立于德国，长期专注电化学测试设备、附件及应用解决方案，并提供 EC-PEN 等局部腐蚀测试产品。

论文案例： Vaccari et al., npj Materials Degradation, 2024

DOI：10.1038/s41529-024-00471-9